29.09.2022

KI-GESTÜTZTE DIAGNOSTIKLÖSUNG

Ein KI-gestützter Prototyp für Zeiss zur Automatisierung der Diagnose von Messgeräten. Durch die Erfassung und Verarbeitung von Sensordaten zeigt dieses Projekt, wie KI zur Überwachung von Geräten eingesetzt werden kann.

Entwickelt als Teil des Digital Transformation-Workshops für das Führungsteam.

Breakthrough

noun /ˈbreɪk.θruː/

Nachhaltig GELÖST

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GERÄTEDIAGNOSTIK

KI-gestützte Algorithmen verarbeiten Sensordaten für die automatisierte Diagnose von Messgeräten.

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ZEITERSPARNIS

Reduziert den Aufwand für Gerätemonitoring und Wartung erheblich.

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AUSSAGEKRÄFTIGE ANALYSEN

Detaillierte Visualisierungen liefern entscheidende Einblicke und optimieren das Management.

Zeitaufwendige Handarbeit

Die diagnostische Herausforderung

ZEISS, ein führendes internationales Technologieunternehmen, stand vor einem wichtigen Problem: der Diagnose von Messgeräten. Diese Herausforderung war mit einem erheblichen Zeitaufwand und hohen Arbeitskosten verbunden, die mit der Überwachung der Geräte verbunden waren, einschließlich der Verwendung verschiedener Sensoren für Wartungszwecke, wie z. B. Temperatur-, Feuchtigkeits- und Ultraschallsensoren. Es stellte sich die Frage: Könnte dieser Prozess automatisiert werden?

150

Führungskräfte energetisiert

272

Sensoren an Mikroskopen installiert

AUTOMATISIERTE GERÄTEDIAGNOSTIK

DIE KI-GESTÜTZTE LÖSUNG

In Zusammenarbeit mit den Führungskräften von Zeiss haben wir Proofs of Concept (PoCs) entwickelt, die Sensordaten erfassen und verarbeiten, um aussagekräftige Dashboards zu erstellen.

Unser KI-gestützter Algorithmus nutzt die erfassten Sensordaten für eine automatisierte Diagnose – und reduziert so sowohl den Zeitaufwand als auch die hohen Kosten manueller Überprüfungen.

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